從70年代后期，近場(chǎng)測(cè)量技術(shù)已走向適用化，據(jù)不完全統(tǒng)計(jì)世界已有五十多家研究機(jī)構(gòu)相繼建立了近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)。

　　近場(chǎng)測(cè)量的局限性

　　頻域近場(chǎng)測(cè)量四種取樣方式的特點(diǎn)如表 7所示，從這個(gè)表格可以看出，部分應(yīng)用研究方向仍是未來研究繼續(xù)探討的方向。回顧過去的前人所做的工作，可以看出未來研究工作應(yīng)集中以下幾個(gè)方向：

　　1.柱面、球面各項(xiàng)誤差的分析.這方面雖有進(jìn)展，但截止目前尚未見公開

　　報(bào)導(dǎo)。

　　2.低或超低副瓣天線的實(shí)時(shí)檢測(cè)口徑診斷雖然有了可喜的進(jìn)展 [21-24]，但距

　　實(shí)用還相差較遠(yuǎn)。

　　3.目標(biāo)散射特性的研究目前僅限于簡(jiǎn)單目標(biāo)的特性實(shí)驗(yàn)研究 [17.20]，復(fù)雜目

　　標(biāo)的實(shí)驗(yàn)研究尚處于探索時(shí)期，近場(chǎng)散射測(cè)量的探頭型式還須進(jìn)一步的探討。

　　4.目標(biāo)成像的研究雖剛剛起步 [25,26]，但應(yīng)用前景非常廣闊。